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测试原理
通过软件程序控制,让射线发生路产生适合的K射线去激发则试薄膜材料中的Sl或者其他元素,被X射线激发后变为不稳定态,高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能里被探则器接收,因每个元素都有自已特定
的能量特征线,通过探测器的识别,计算机软件的计算,即可准确识别该元素,并计算出含量。
仪器采用了大面积的晶体硅漂移探测器,分辨率能够达到125eV,能分辨AI(铝)元素和Si(硅)元素
技术特点
,测试采用X射线荧光光谱原理,测试过程无需耗材配置高清液晶显示器,测试过程和测试结果一目了然光管垂直照射,硅元素性能得到更强激发设备集成多个usb接口,数据和通讯传输满足多种要求测试下限好,可准确测量0.01g/m2的涂硅量空气光路内部环境得到显著优化,大气环境-样可以直接测试采用大面积硅漂移探测器,测试结果极其准确一键测试/操作简单智能,测试过程使用时间更短,结果更准确
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