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当前位置:首页产品中心电镀层膜厚仪Thick 800A X射线荧光镀层测厚仪

Thick 800A X射线荧光镀层测厚仪

产品简介

Thick 800A 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

产品型号:
更新时间:2024-09-03
厂商性质:生产厂家
访问量:325

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

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品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域综合

技术指标

分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
SDD探测器:分辨率低至135eV
的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃



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