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荧光X射线镀层厚度测量仪测厚仪

产品简介

X荧光镀层测厚仪 无损测量电子电镀 五金电镀 半导体及连接器端子等多方面的电镀层膜厚

产品型号:
更新时间:2024-09-03
厂商性质:生产厂家
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产地类别进口应用领域综合

FISCHER(菲希尔)XAN120膜厚仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层。
XAN120测量准确,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。
无论您想测量未知样品还是测定未知材料,XAN? 120 配合优异的菲希尔 WinFTM? 运行软件都是您正确的选择。
FISCHER(菲希尔)XAN120膜厚仪采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置,X射线源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN 120 的底部,从而可以采用射线向上的测量技术。集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统,将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测量。
可测量.单层.双层,合金层等多种镀层.

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